一、浪涌的來源與危害:為何必須測試?
開關(guān)瞬態(tài):廠內(nèi)大型感性或容性負(fù)載(如電機(jī)、變壓器、補(bǔ)償電容)的切換。 雷電感應(yīng): 直接雷擊:雷電流通過接地系統(tǒng)引起地電位劇烈抬升(“地電位反擊”)。 間接雷擊:附近雷擊產(chǎn)生的強(qiáng)大電磁場,在戶外長電纜上感應(yīng)出過電壓。 系統(tǒng)故障:電網(wǎng)中的短路故障、諧振等。
硬件損毀:半導(dǎo)體器件、隔離器件、PCB走線因過壓過流而燒毀。 功能紊亂:設(shè)備重啟、數(shù)據(jù)丟失、誤報警、控制失靈。 隱性損傷:器件性能劣化,導(dǎo)致設(shè)備壽命縮短,可靠性下降。
二、核心測試標(biāo)準(zhǔn):IEC 61000-4-5
測試波形:定義了兩種標(biāo)準(zhǔn)組合波,模擬不同阻抗源上的浪涌。 開路電壓波(1.2/50 μs):模擬電壓脈沖的上升與衰減時間。 短路電流波(8/20 μs):模擬電流脈沖的上升與衰減時間。 組合波發(fā)生器(CG)必須能在不同負(fù)載上自動產(chǎn)生這兩種波形。 測試等級:根據(jù)設(shè)備預(yù)期安裝的電磁環(huán)境嚴(yán)酷度劃分。
測試端口:電源端口、輸入/輸出信號/控制端口、通信端口、接地端口。
組合波發(fā)生器(CG):核心設(shè)備,產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)1.2/50 μs電壓波和8/20 μs電流波。 耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)(CDN): 功能:將浪涌脈沖耦合到被測設(shè)備(EUT)的端口,同時防止干擾反饋回電網(wǎng)或影響輔助設(shè)備。 類型:電容耦合(用于信號線)、氣體放電管耦合(用于電源線)。 測試軟件與監(jiān)控設(shè)備:控制測試序列,監(jiān)測EUT在測試中的功能狀態(tài)。
四、測試實(shí)施流程
1. 測試前準(zhǔn)備
確定測試計劃:依據(jù)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)(如IEC 61326用于工業(yè)測量設(shè)備),明確測試等級、端口、施加相位、次數(shù)(正/負(fù)極各5次,間隔約1分鐘)。 配置EUT:EUT應(yīng)處于典型工作狀態(tài),并布置在接地參考平板上。 接線:嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)連接CDN、GRP和EUT,確保接地線短而粗。
2. 執(zhí)行測試
選擇耦合路徑: 線-地模式:浪涌通過CDN施加在每根相線/信號線與保護(hù)地(PE)之間。這是最主要的測試模式,模擬地電位反擊。 線-線模式:浪涌施加在電源線或信號線之間。 施加浪涌: 電源端口:在交流電壓波形的正、負(fù)峰值及過零點(diǎn)相位(0°, 90°, 180°, 270°)同步施加,以覆蓋最嚴(yán)酷情況。 信號端口:通常通過電容耦合網(wǎng)絡(luò)施加。 功能性能判據(jù)評估:在每次施加浪涌后及整個測試過程中,依據(jù)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)監(jiān)控EUT性能。 判據(jù)A:功能與性能完全正常,無任何降級。 判據(jù)B:功能暫時降級或喪失,但可自行恢復(fù)。 判據(jù)C:功能暫時喪失,需人工干預(yù)(如重啟)才能恢復(fù)。 判據(jù)D:硬件永久損壞,功能不可恢復(fù)。 工業(yè)設(shè)備通常要求滿足判據(jù)B及以上,關(guān)鍵控制設(shè)備應(yīng)滿足判據(jù)A。
3. 測試后分析與報告
記錄所有測試條件、配置及EUT的反應(yīng)。 對任何功能降級或失效進(jìn)行分析,定位薄弱點(diǎn)。
五、工程設(shè)計中的浪涌防護(hù)策略
端口防護(hù)設(shè)計(第一道防線): 電源入口:采用壓敏電阻(MOV)、氣體放電管(GDT)、瞬態(tài)電壓抑制二極管(TVS)的組合電路,形成粗-細(xì)保護(hù)。 信號/通信端口:使用TVS、半導(dǎo)體放電管、隔離器件(如光耦、磁耦)進(jìn)行保護(hù)。 良好的PCB布局與接地(第二道防線): 采用單點(diǎn)接地或分區(qū)接地,避免噪聲環(huán)流。 敏感電路遠(yuǎn)離端口和接地線入口。 電源與信號線布線清晰,避免環(huán)路。 濾波與隔離(第三道防線): 在防護(hù)器件后級使用共模電感、濾波電容,吸收殘余能量。 對高可靠性要求的信號,采用隔離電源和隔離通信接口(如隔離RS-485)。 軟件容錯(最后保障): 設(shè)計看門狗、關(guān)鍵數(shù)據(jù)校驗(yàn)、故障安全模式,確保受干擾后能安全恢復(fù)。
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