厚度和外形尺寸的測量

8.1絕緣厚度的測量

8.1.1概述

絕緣厚度的測量可以作為一項單獨的試驗，也可以作為其他試驗如機械性能試驗過程中的一個步驟。

在所有情況下，取樣方法均應符合有關電纜產品標準的規(guī)定。

8.1.2測量裝置

讀數(shù)顯微鏡或放大倍數(shù)至少10倍的投影儀，兩種裝置讀數(shù)均應至0.01mm。當測量絕緣厚度小于0.5mm時，則小數(shù)點后第三位數(shù)為估計讀數(shù)。有爭議時，應采用讀數(shù)顯微鏡測量作為基準方法。

8.1.3試件制備

從絕緣上去除所有護層，抽出導體和隔離層（若有的話）。小心操作以免損壞絕緣，內外半導電層若與絕緣粘連在一起，則不必去掉。

每一試件由一絕緣薄片組成，應用適當?shù)墓ぞ撸ㄤh利的刀片如剃刀刀片等）沿著與導體軸線相垂直的平面切取薄片。

無護套扁平軟線的線芯不應分開。

如果絕緣上有壓印標記凹痕，則會使該處厚度變薄，因此試件應取包含該標記的一段。

8.1.4測量步驟

將試件置于裝置的工作面上，切割面與光軸垂直。

a）當試件內側為圓形時，應按圖1徑向測量6點。如是扇形絕緣線芯，則按圖2測量6點；b）當絕緣是從絞合導體上截取時，應按圖3和圖4徑向測量6點；c）當試件外表面凹凸不平時，應按圖5測量6點；d）當絕緣內、外均有不可去除的屏蔽層時，屏蔽層厚度應從測量值中減去，當不透明絕緣內、外均有不可除去的屏蔽層時，應使用讀數(shù)顯微鏡測量；

截面積的測量

a）啞鈴試件

每個試件的截面積是試件寬度和測量的最小厚度的乘積，試件的寬度和厚度應按如下方法測量。

寬度：

任意選取三個試件測量它們的寬度，取最小值作為該組啞鈴試件的寬度；一如果對寬度的均勻性有疑問，則應在三個試件上分別取三處測量其上、下兩邊的寬度，計算上、下測量處測量值的平均值。取三個試件的9個平均值中的最小值為該組啞鈴試件的寬度。如還有疑問，應在每個試件上測量寬度。

厚度：

一每個試件的厚度取拉伸區(qū)域內三處測量值的最小值。

應使用光學儀器或指針式測厚儀進行測量，測量時接觸壓力不超過0.07N/mm2。測量厚度時的誤差應不大于0.01mm，測量寬度時的誤差應不大于0.04mm。如有疑問，并在技術上也可行的情況下，應使用光學儀器?；蛘咭部墒褂媒佑|壓力不大于

0.02N/mm2的指針式測厚儀。

注：如果啞鈴試片的中間部分成弧狀，可使用帶合適弧形測量頭的指針式測厚儀。

b）管狀試件

在試樣中間處截取一個試件，然后用下述測量方法中的一種測量其截面積A（單位為mm2）。

如有疑問，應使用第二種方法b2）。

b1）根據(jù)截面尺寸計算：

A=x（D-8）8